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德國(guó)Accurion 布魯斯特角顯微鏡是專為空氣/液體界面設(shè)計(jì)的布魯斯特角顯微鏡。它可以直接觀察朗繆爾單分子層或吸附薄膜。它同樣適用于玻璃、石英或類似材料等電介質(zhì)基底。Accurion UltraBAM 結(jié)合了高分辨率和整體聚焦的實(shí)時(shí)成像。*的成像光學(xué)系統(tǒng)能夠以每秒 20-35 幀的速度提供全聚焦圖像。高性能相機(jī)和特定的校準(zhǔn)算法實(shí)現(xiàn)了反射率的定量測(cè)量,從而可以監(jiān)測(cè)吸附動(dòng)力學(xué)或厚度變化。
準(zhǔn)確成像, 無(wú)交叉耦合現(xiàn)象 業(yè)界*的XYZ軸線性度,樣品和探針?lè)謩e由獨(dú)立的柔性制導(dǎo)掃描器控制移動(dòng) Z低的平面偏移度,全程水平掃描時(shí)平面偏移量不超過(guò)1納米 垂直掃描器全程伸縮時(shí),線性度優(yōu)于0.015% 優(yōu)化的水平掃描器ringing現(xiàn)象, 科學(xué)的正向sine-scan算法 原子力顯微鏡
- 原子力顯微鏡(AFM)有納米級(jí)分辨率成像以及電,磁,熱和機(jī)器性能測(cè)量的能力。 - 納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導(dǎo)顯微鏡(SICM)。 - 倒置光學(xué)顯微鏡(IOM)便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。
在同級(jí)產(chǎn)品中,Park XE7能夠帶來(lái)Z高納米級(jí)分辨率的測(cè)量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構(gòu),即獨(dú)立的XY軸和Z軸柔性掃描器,XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測(cè)量,從而精確成像和測(cè)量樣品的特征。此外,Park所*的True Non-Contact™模式還能為您帶來(lái)*的圖像效果,探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會(huì)受影響。
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